PRODUITS / PRODUCTION Production
Testeur fonctionnel et boundary scan
PT100 Pro d'Intellitech

Ce système assure le test JTAG et le test fonctionnel, via le port d'émulation JTAG de l'unité centrale, des cartes électroniques intégrant un ou plusieurs processeurs ARM.
Jusqu'à 32 contrôleurs de ports d'accès de test IEEE 1149.1
Jusqu'à 1 870 points de test analogiques/numériques
Interface de test pneumatique ou sous vide (option)
Châssis PXI pour les instruments de mesure
Rens. :
www.intellitech.com
ACCUEIL

Mario Pasquali est à l’origine, avec sa société Ellisys, des suites de tests de l’USB 3.0, utilisées
en particulier pour la certification à ce standard des contrôleurs hôte et des périphériques
mis sur le marché. Il explique ici comment évolue l’USB 3.0, et en quoi l’augmentation prévue
par l’USB-IF de la puissance électrique véhiculée par un lien USB, jusqu’à 100 W, est une évolution majeure à venir de ce standard.



