Successeur du vénérable IEEE 1149.1, souvent appelé Jtag, le nouveau standard IEEE 1149.7 ou compactJtag, ratifié l’année dernière par l’organisme de normalisation, est désormais publié. Développé par le Joint Test Action Group en 1985 puis ratifié par l’IEEE en 1990, le standard IEEE 1149.1, appelé Jtag, a désormais son successeur : le cJtag ou compactJtag. Ratifiée par l’IEEE en 2009, cette norme, soutenue ardemment par Texas Instruments, et qui porte sur des méthodes de test embarqué de circuits intégrés, est désormais accessible en publication.
Organisée en un ensemble de six classes, que l’on peut implanter ou non, l’IEEE 1149.7 permet, si on le souhaite, de n’utiliser pour scanner un circuit que deux broches au lieu des quatre nécessaires pour le Jtag traditionnel. Ces deux fils supportent les signaux d’horloge et les données d’E/S, y compris les données et signaux d’instrumentation. Une caractéristique qui, associée au fait que l’on peut construire des topologies en étoile et non uniquement en série comme avec le Jtag traditionnel, devrait faciliter la conception de chaînes de test pour les circuits complexes de dernière génération, ainsi que pour les circuits en 3D type SiP (System in Package) ou MCM (Multi Chip Module)

La société IP Extreme, qui propose une IP IEEE 1149.7, vient d’annoncer que celle-ci est désormais interopérable avec les outils de débogage au niveau matériel Trace32 de Lauterbach. En outre, IP Extreme a étroitement collaboré avec la société américaine Globetech Solutions, fournisseur d’une IP de vérification de l’IEEE 1149.7, afin de fournir une suite complète d’implantation de cette technologie dans un flot de conception de circuits.