L’autonomie et la vitesse de recharge des véhicules électriques restent plus que jamais des éléments clés pour les constructeurs… et les utilisateurs. La surveillance des cellules de batterie gagne donc en sophistication, afin d’en tirer le meilleur parti. NXP Semiconductors vient ainsi de présenter une technique originale, dite EIS (electrochemical impedance spectroscopy), qui met en œuvre un circuit de mesure de cellule (BMA7418), un autre servant de passerelle (BMA6402) et un troisième au niveau du boîtier de jonction de  la batterie (BMA8420). L’idée est d’envoyer des signaux d’excitation électrique aux cellules et d’observer leur réponse à différentes fréquences afin de détecter de manière dynamique des gradients de température, des effets de vieillissement ou encore des petits courts-circuits.

Le jeu de circuits de NXP permet d’intégrer cette technique EIS en limitant les modifications du montage existant, les mesures étant intégrées dans les puces (y compris la transformée de Fourier rapide). La solution complète, incluant le logiciel tournant sur le microcontrôleur S32K358 du Néerlandais, sera disponible début 2026.