Cette note d’application présente les techniques permettant d’optimiser le câblage et de générer des impulsions propres de largeur 10 μs.
L’industrie des composants et modules optiques demandent aux équipements d’être de plus en plus capables de générer et analyser les signaux électriques et optiques rapides.
Les unités de source et de mesure (SMU) sont généralement utilisées pour tester et mesurer les caractéristiques électriques de la plupart des composants ou modules optiques. Par exemple, les diodes lasers VCSEL (cavité verticale à émission par la surface) sont largement utilisés pour mesurer des distances et des vitesses pour des applications autour de la détection 3D.
Dans de nombreuses applications, les diodes VCSEL fonctionnent avec des largeurs d’impulsion de quelques nanosecondes et des temps de montée inférieurs à 1 ns.
Pour les tests de composants on wafer ou en boitier des impulsions de plusieurs dizaines de microsecondes sont utilisées pour la simple raison qu’il est difficile de produire des impulsions de l’ordre de quelques nanosecondes dès lors que les systèmes de test comportent des câbles de plusieurs mètres de long.
Certains modules VCSEL forte puissance nécessitent de générer des courants jusqu’à 10 A. Générer des impulsions courtes avec des temps de montée de quelques microsecondes seulement peut s’avérer difficile à réaliser.
Keithley Instruments a introduit la technologie PulseMeter™ qui offre la possibilité de générer des impulsions de 10 μs, avec des courants de 10 A et des tensions de 10 V.
Cette note d’application présente les techniques permettant d’optimiser le câblage et de générer des impulsions propres de largeur 10 μs.
Auteur : Keithley – Tektronix
Langue : Anglais