Annoncés cette semaine, les quatre derniers modules d’E/S PXI configurables de la gamme FlexRIO multiplient les possibilités en mesure temps-réel et en test non destructif. National Instruments vient d’ajouter quatre nouvelles références de modules adapteurs (NI 5761, NI 5751, NI 5752 et NI 6583) à sa famille de produits reconfigurables à base de FPGA FlexRIO. S’appuyant sur le logiciel NI LabVIEW FPGA, ces nouvelles ressources d’entrées/sorties offrent de nouvelles possibilités d’instrumentation virtuelle pour applications de test et mesure en temps-réel et en non-destructif, dans les champs des ultrasons, des systèmes de communication ou en recherche scientifique.
Le module d’acquisition NI 5761 dispose de 4 canaux, 14 bits de résolution à la fréquence d’échantillonnage de 250 Méch./s, et cible les applications de traitement du signal, en communication, radar ou recherche scientifique. Visant les domaines de l’imagerie médicale ou de la physique expérimentale, le module NI 5751 dispose, lui, de 16 canaux d’échantillonnage caractérisés par une résolution de 14 bits et une fréquence d’échantillonnage de 50 Méch./s.
Le module NI 5752, pour sa part, se caractérise par 32 entrées d’acquisition à 50 Méch./s et une résolution de 12 bits. Il a été spécialement conçu pour le test non-destructif et les applications en ultrasons, avec ses entrées différentielles à couplage AC et à gains variables, ainsi que ses 16 sorties numériques pour générer des impulsions. Enfin, le module NI 6583 dispose de 32 canaux/16 paires LVDS/mLVDS en entrée, échantillonnant jusqu’à des débits de 300 Mbits/s, et vise en particulier les tests en communications à signaux logiques mixtes.
