Geotest, fabricant américain de solutions de test de systèmes électroniques, propose une carte au standard PXI spécifiquement dédiée aux applications de test des semi-conducteurs. Sans recours à un multiplexeur pour le test des broches. La carte PXI GX5295 de Geotest, au format 3U, offre une PMU (Parametric Measurement Unit) par voie pour un total de 32 entrées-sorties numériques et analogiques avec des niveaux programmables (drive/sense) de -2 V à +7 V. Avec pour chaque voie un contrôle directionnel par cycle d’horloge jusqu’à 100 MHz en temps réel.

La particularité de cette carte, unique sur le marché selon la société, est qu’il est possible de générer un signal (tension, courant ou pattern de test) et de faire de la mesure (tension, courant, signaux de retour des pattern de test) sur la même broche, évitant ainsi d’avoir recours à un système de multiplexage. Et donc de réaliser des tests paramétriques et/ou fonctionnels à partir de la même carte.

La carte dispose au global de 256 Mo de mémoire pour stocker les vecteurs de test (configurable par logiciel sur les 32 voies) et autorise un mode comparaison en temps réel (génération de stimulus, réponse et analyse des différences) accélérant les tests de type go/no-go qui ont besoin de longues mémoires. La GX5295 peut être synchronisée avec d’autres GX5295, jusqu’à 15, offrant alors dans un seul châssis PXI équipé de blocs d’alimentation convenablement adaptés, jusqu’à 512 canaux de test.

La GX5295 est fournie avec le logiciel DIOEasy pour la création, l’édition, l’import et l’export des vecteurs de test.