ACS 3.2 de Keithley Instruments
Le fournisseur étend les fonctionnalités de son logiciel de test et de caractérisation automatisés de semiconducteurs.
Tests parallèles sur plusieurs sites logiques et physiques
Support de jusqu’à 100 000 matrices par tranche
Tracés supplémentaires au niveau de la tranche
Support des nouveaux SourceMeter 2635 et 2636
Rens. : www.keithley.com
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