Genesis de LDS Test & Measurement
Le constructeur étend l’offre de cartes pour son système d’acquisition de données Genesis avec deux modèles de numérisation haute vitesse dotés de quatre voies de mesure différentielles par carte.
Gamme de tension : ± 20 mV à ± 100 V
Fréquence d’échantillonnage par voie : 100 Méch/s sous 14 bits ou 25 Méch/s sous 15
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