La fiabilité est au c

Le 31/05/2007 à 0:00 par Cédric Lardière

Les problèmes rencontrés par les concepteurs de circuits intégrés en 90 nm et 65 nm sont à peine résolus que les acteurs des semiconducteurs planchent déjà sur ceux liés aux technologies 45 nm et moins.

Les sujets de discussion et de débat ne manquent pas ces derniers temps dans le domaine de la conception électronique. Quand ce n’est

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