Diagnostics de fabrication

Le 22/02/2007 à 0:00 par La rédaction

YieldAssist de Mentor Graphics

Cet outil s’utilise comme un serveur de données pour le diagnostic des défaillances de fabrication identifiées lors du test du circuit sur tranche de silicium.

Analyse des défauts trouvés au test
Identification des causes de défauts

Rens. : www.mentor.com

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