Avec emBISTRx, Arm fournit ses propres solutions d’auto-test ou Bist (Built-in self test) et de réparation BISR (Built-in self repair) pour les mémoires embarquées en 45, 65 et 90 nm. Basée sur une approche hiérarchique distribuée, avec un contrôleur Bist/Bisr centralisé, cette solution permet, selon Arm, d’économiser de 20 à 30 % de surface dans l’insertion de
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L'AMÉRICAIN EST LE PREMIER À FAIRE LA DEMONSTRATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS GRAVES EN PROCESS 2 nm, GRÂCE À UNE TECHNOLOGIE…
ANNONCÉ COMME PLUS ÉCONOMIQUE QUE LES TECHNOLOGIES SIGFOX ET LORA, CE FORMAT DE RÉSEAUX LOCAUX MESH À FAIBLE CONSOMMATION CONVIENT…
UN CONNECTEUR SUR MESURE CONSTITUÉ DE BLOCS ÉLEMENTAIRES (PUISSANCE, SIGNAUX OU DONNÉES) ASSEMBLÉS SUR UN RAIL : C'EST CE QUE…
