Circuits : le logiciel de DFT améliore le diagnostic et la qualité des tests

Le 15/12/2005 à 0:00 par Cédric Lardière

L’Américain Mentor Graphics vient d’étendre son portefeuille de logiciels pour la conception pour le test (DFT) avec YieldAssist. Ce dernier récupère les informations de défauts directement à partir des tests au niveau de la fabrication, puis identifie les causes de défauts systématiques et aléatoires en utilisant les données fournies par les outils de génération de

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