Kit PIV pour 4200-SCS de Keithley Instruments
Cette option du système de caractérisation des semiconducteurs permet l’analyse de composants continus (SOI, FinFET) grâce à des signaux pulsés.
2 voies indépendantes
Gamme en fréquence : de 1 Hz à 50 MHz
Largeur, temps de répétition, temps de montée et de descente, amplitude, décalage réglables
Durée d’impulsion
…
L'AMÉRICAIN EST LE PREMIER À FAIRE LA DEMONSTRATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS GRAVES EN PROCESS 2 nm, GRÂCE À UNE TECHNOLOGIE…
ANNONCÉ COMME PLUS ÉCONOMIQUE QUE LES TECHNOLOGIES SIGFOX ET LORA, CE FORMAT DE RÉSEAUX LOCAUX MESH À FAIBLE CONSOMMATION CONVIENT…
UN CONNECTEUR SUR MESURE CONSTITUÉ DE BLOCS ÉLEMENTAIRES (PUISSANCE, SIGNAUX OU DONNÉES) ASSEMBLÉS SUR UN RAIL : C'EST CE QUE…
