TEST & MEASUREMENT WORLD – SEPTEMBRE 2003
Le test de latch-up transitoire révèle les faiblesses des composants que d’autres méthodes occultent. Les fabricants de semi-conducteurs se reposent sur les tests de latch-up pour caractériser la susceptibilité de leurs composants aux défaillances électriques. Les procédures de test sont diverses, mais l’unique méthode standardisée sous la référence
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L'AMÉRICAIN EST LE PREMIER À FAIRE LA DEMONSTRATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS GRAVES EN PROCESS 2 nm, GRÂCE À UNE TECHNOLOGIE…
ANNONCÉ COMME PLUS ÉCONOMIQUE QUE LES TECHNOLOGIES SIGFOX ET LORA, CE FORMAT DE RÉSEAUX LOCAUX MESH À FAIBLE CONSOMMATION CONVIENT…
UN CONNECTEUR SUR MESURE CONSTITUÉ DE BLOCS ÉLEMENTAIRES (PUISSANCE, SIGNAUX OU DONNÉES) ASSEMBLÉS SUR UN RAIL : C'EST CE QUE…
