La complexité croissante des composants et la hausse de leurs fréquences de fonctionnement sont à l’origine de l’augmentation des émissions parasites. Simultanément, afin de limiter les consommations et permettre l’amincissement des épaisseurs d’oxyde, la baisse des tensions d’alimentation a conduit à rendre les circuits intégrés plus vulnérables aux agressions électromagnétiques. Or, contrairement à la prédiction

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