DiaTem Studio v. 2.2 de Temento Sysems
Cet outil logiciel assure l’analyse statistique de la couverture de test et vérifie la testabilité d’un circuit tout au long de la conception.
Support des cluster ATPG étendu aux mémoires DDR2, flash NAND et FIFO asynchrones
Modèle de ligne LVDS pour la détection de fautes testables en JTAG
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L'AMÉRICAIN EST LE PREMIER À FAIRE LA DEMONSTRATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS GRAVES EN PROCESS 2 nm, GRÂCE À UNE TECHNOLOGIE…
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