Le système de caractérisation des semiconducteurs Model 4200-SCS de l’américain Keithley Instruments se voit doté de fonctionnalités matérielles et logicielles supplémentaires : un neuvième emplacement dans les châssis Model 4200-SCS, une gamme de fréquences étendues allant de 1 kHz à 10 MHz pour les Model 4200-CVU, une bibliothèque pour les applications de tests I/V, C/V et de résistance
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L'AMÉRICAIN EST LE PREMIER À FAIRE LA DEMONSTRATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS GRAVES EN PROCESS 2 nm, GRÂCE À UNE TECHNOLOGIE…
ANNONCÉ COMME PLUS ÉCONOMIQUE QUE LES TECHNOLOGIES SIGFOX ET LORA, CE FORMAT DE RÉSEAUX LOCAUX MESH À FAIBLE CONSOMMATION CONVIENT…
UN CONNECTEUR SUR MESURE CONSTITUÉ DE BLOCS ÉLEMENTAIRES (PUISSANCE, SIGNAUX OU DONNÉES) ASSEMBLÉS SUR UN RAIL : C'EST CE QUE…
