Keithley Instruments lance une solution de test Mimo 8×8

Le 01/09/2008 à 12:21 par Cédric Lardière

Après avoir étendu l’offre de cartes pour sa plate-forme de commutation/mesure 3700 (multiplexeur 1×30 double 3724 et entrées/sorties multif…

Après avoir étendu l’offre de cartes pour sa plate-forme de commutation/mesure 3700 (multiplexeur 1×30 double 3724 et entrées/sorties multifonctions 3750) et sorti la version 7.1 du logiciel KTEI pour le système de caractérisation de semiconducteurs 4200-SCS,

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