Avec son outil SpyGlass-DFT DSM, Atrenta étend sa solution de DFT (Design for test) au niveau RTL en identifiant les problèmes de timing liés aux tests « at speed », réalisés de plus en plus souvent par les ATPG sur les circuits nanométriques.
Dans le domaine de la vérification et de l’analyse de code au niveau
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