Couverture ElectroniqueS n°127

Grâce à des améliorations matérielles et logicielles, les testeurs à sondes mobiles de Spea assurent désormais des vitesses de contrôle requises en production de masse. En production de cartes électroniques, le contrôle du bon assemblage et du fonctionnement correct des composants du point de vue électrique s'effectue avec des testeurs in situ dont la connexion aux équipotentielles sur la carte est assurée par des pointes de test regroupées dans une interface de type lit à clous. Fournissant un diagnostic précis des défauts, rapide et mature, cette technique de test montre pourtant parfois des limites, et des techniques plus récentes tentent de lui grappiller un peu de sa prédominance. A l'image des testeurs à sondes mobiles. Ces derniers ont remplacé l'interface de type lit à clous des testeurs in situ par un petit nombre de sondes mobiles (jusqu'à 8) qui remplissent exactement la même fonction. Mais voilà, les performances ne sont pas les mêmes, en termes de vitesse de test et de précision du diagnostic notamment, ce qui a cantonné, dès le départ, les testeurs à sondes mobiles au contrôle des prototypes puis à celui des petites séries grâce à certaines améliorations. « Ce temps est révolu, affirme Andrea Ganio, directeur exécutif de Spea. En augmentant d'au moins 40 % la vitesse de contrôle, la version Hi-Line série 5 de nos systèmes de test à sondes mobiles 4040 permet désormais d'adresser aussi bien des petites séries que des productions de volume. » Pour y parvenir, la société italienne a apporté un ensemble d'améliorations à la fois matérielles et logicielles. S'appuyant sur la même architecture que les modèles précédents, les 4040 Hi-Line série 5 disposent toujours de quatre sondes dont la motorisation linéaire à sustentation magnétique a été revue et corrigée. « Les nouveaux moteurs de commande de puissance offrent une accélération des têtes de mesure jusqu'à 2 g ou 4 g en option (clé logicielle). La vitesse de déplacement mécanique est ainsi améliorée de 25 % à 35 % », estime M. Ganio.Mesure de l'impédance nodale de certaines équipotentiellesParmi les autres spécifications, ces testeurs peuvent accueillir des cartes de 400 x 500 mm en option, il est possible de passer des cartes de 610 x 610 mm et même de 686 x 610 mm et présentant une hauteur maximale de 55 mm au-dessus et de 110 mm en dessous. Côté résolution, les modèles 4040 atteignent 5 µm en X et Y, ou 1,25 µm en mode very high accuracy, et 15 µm sur l'axe des Z. A noter la présence d'une matrice de 248 sondes fixes au-dessous pour un multiplexage ou l'apport de fonctions de génération, de multimètre…Spea a également porté son attention sur les aspects logiciels des tests en introduisant une option de mesure d'impédance nodale. Au lieu de contrôler tous les composants, cette méthode consiste à effectuer la mesure de trois paramètres (résistance, partie imaginaire L et C et non-linéarité du n&oelig;ud) entre un n&oelig;ud (une équipotentielle) et une référence définissable, pouvant être la masse ou un autre n&oelig;ud. Si une variation est détectée, le testeur passe à une méthode traditionnelle autour de ce n&oelig;ud et non sur l'ensemble de la carte. Il est ainsi possible de vérifier l'ensemble des équipotentielles en très peu de temps. « Cette fonctionnalité logicielle s'accompagne de modifications au niveau matériel afin de mesurer des valeurs de l'ordre de 10-12. Ce sont en effet les très faibles variations de capacité qui sont à l'origine des courts-circuits », rappelle Jean Alba, directeur de l'activité Test chez Antycip, nouveau distributeur en France de Spea.Par ailleurs, les systèmes de test par sondes mobiles 4040 intègrent, depuis les versions précédentes, des techniques d'optimisation, en particulier pour le test des courts-circuits. Ce dernier représente en effet près de la moitié des contrôles réalisés en sondes mobiles. Là encore, au lieu de tester un point avec l'ensemble des autres équipotentielles réunies ce que permet de faire un testeur in situ, mais qui requiert un nombre très élevé de mouvements des sondes, les testeurs à sondes mobiles permettent de ne contrôler que les équipotentielles se situant dans un rayon d'action de moins de 3 mm du point à tester. « Ce compromis entre le risque admis et la vitesse du test procure une réduction d'un facteur entre 5 et 8 du nombre d'équipotentielles à vérifier », explique M. Alba.Disponibles en version à chargement par navette ou chargement en ligne, les testeurs à sondes mobiles 4040 Hi-Line série 5 sont vendus entre 170 000 euros et 230 000 euros, selon les différentes options, et leur prix peut atteindre 400 000 euros en version complète (puissance, boundary scan, test optique, test de broche ouverte, test numérique, programmation in situ, test fonctionnel).Spea privilégie la distribution en FranceAprès l'Américain Teradyne (voir notre numéro du 4 avril 2003), l'Italien Spea se tourne, à son tour, vers la distribution pour la commercialisation en France de ses systèmes de test pour les cartes électroniques. Et c'est Antycip la société emploie 46 personnes pour un chiffre d'affaires de près de 12 M d'euros en 2003 qui a été retenue. Pour Spea (375 personnes pour un chiffre d'affaires de 49 M d'euros en 2003), c'est la fin d'une présence directe qui remonte au milieu des années 1980. « Le choix de passer par un distributeur n'est pas un abandon !, s'exclame Andrea Ganio, directeur exécutif de Spea. Pour preuve, l'ensemble des contrats de maintenance, une trentaine de clients, a été reconduit. » La société espère, par ailleurs, profiter de la présence d'Antycip en Espagne pour attaquer ce marché. Du côté du Français, l'offre italienne va venir remplacer celle en test in situ à lit à clous de l'Allemand Digitaltest abandonnée il y a deux ans. « Mais Spea, ce n'est pas que du test électrique par lit à clous. Nous avons conclu un partenariat avec le numéro 3 mondial et numéro 2 en Europe en test in situ », se réjouit Jean Alba, directeur de l'activité Test chez Antycip. 40 % du CA de Spea provient en effet du test de semiconducteurs, 35 % du test à sondes mobiles et 20 % des testeurs à lit à clous.(*) Selon une étude de Prime Research en 2003.

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