Logiciel pour système de caractérisation

Le 02/10/2008 à 0:00 par La rédaction

KTEI 7.1 de Keithley Instruments

Ce logiciel se dote de fonctionnalités supplémentaires, dont la prise en charge des composants haute puissance jusqu’à 200 V DC et 300 mA (4200-CVU-PWR CV Power Package).

Polarisation DC différentielle jusqu’à 60 V
Test C-V (capacité-tension) quasi statique
Jeu de bibliothèques de tests étendu
Destiné au système de caractérisation des semiconducteurs 4200-SCS

Rens. :

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