L’évolution des circuits intégrés numériques, pour les technologies de fabrication actuelles en 65 et 45 nm, et futures en 32 voire 22 nm, pose de redoutables problèmes aux concepteurs : consommation délicate à maîtriser, extrême sensibilité aux variations des paramètres physiques des circuits en production, vérification des timings de plus en plus délicate. Des difficultés qui, au fond,

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