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Outil de test plus rapide

Le 25/01/2007 à 0:00 par adminElectro

TetraMAX de Synopsys

Cette version d’outil de génération de pattern de test (ATPG) triple sa vitesse d’exécution.

3 fois plus rapide
Sans partitionnement du circuit
Pour SoC 90nm et moins

Rens.: www.synopsys.com

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