Support de test RF pour circuits intégrés

Le 17/06/2004 à 7:00 par La rédaction

Aries d’ISC-Distrel

Ce support de test RF est adapté aux circuits de 14 à 27 mm de côté devant être testés de 1 GHz à plus de 10 GHz avec des pas pouvant descendre à 0,5 mm.

Tests de CSP, MicroBGA, MLF, QFN, DSP, LGA, Sram, Dram et flash
Durée de vie : 500 000 cycles
Température de fonctionnement : ­55°C à

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