Arguant du fait que les générateurs automatiques de vecteurs de test (ou ATPG) traditionnels (Automatic test pattern generation) ne ciblent pas les petits défauts de timing pour les conceptions à 90 nm et en deçà, Synopsys a développé une nouvelle technologie en collaboration avec le centre de recherche japonais Starc (Semiconductor technology academic research center). Celle-ci

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