Test sans vecteur des cartes électroniques

Le 04/05/2006 à 0:00 par La rédaction

Medalist iVTEP d’Agilent Technologies

Cette technologie, basée sur les concepts TestJet et VTEP, assure des tests sans vecteur moins dépendants des géométries des grilles de connexion.

Mesures stables au niveau des broches des boîtiers à géométrie ultrafines, des puces retournées
Compatible avec les solutions matérielles VTEP
Disponible pour les testeurs in situ i5000 et 3070

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