Vers une caractérisation statistique rapide des délais

Le 01/05/2007 à 0:00 par François Gauthier

L’américain Altos Design, spécialisé dans les outils de caractérisation des cellules logiques, annonce l’outil Variety, destiné à la génération de modèles pour la caractérisation statistique des délais au sein des bibliothèques de cellules standard. Il s’agit, contrairement aux classiques caractérisations statiques de délais, inopérantes pour les technologies en 65 nm et au-delà, de prendre en compte

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